2024-07-26
1. HagyományosCVD SiCLerakási folyamat
A szilícium-karbid bevonatok felhordásának szabványos CVD-folyamata egy sor gondosan ellenőrzött lépésből áll:
Fűtés:A CVD kemencét 100-160°C közötti hőmérsékletre melegítik.
Aljzat terhelés:Egy grafit szubsztrátumot (tüskét) helyeznek egy forgó platformra a leválasztókamrában.
Vákuum és öblítés:A kamrát több ciklusban evakuálják és argon (Ar) gázzal átöblítik.
Fűtés és nyomásszabályozás:A kamrát folyamatos vákuum alatt a lerakódási hőmérsékletre melegítjük. A kívánt hőmérséklet elérése után tartási időt tartanak fenn az Ar-gáz bevezetése előtt, hogy elérjék a 40-60 kPa nyomást. Ezután a kamrát ismét kiürítjük.
A prekurzor gáz bevezetése:Hidrogén (H2), argon (Ar) és szénhidrogén gáz (alkán) keverékét vezetik be egy előmelegítő kamrába, valamint egy klórszilán prekurzort (jellemzően szilícium-tetrakloridot, SiCl4-et). A kapott gázelegyet ezután a reakciókamrába tápláljuk.
Lerakás és hűtés:A leválasztás befejeztével a H2, a klórszilán és az alkán áramlását leállítjuk. Az argon áramlását fenntartják, hogy a kamrát hűtés közben kiöblítsék. Végül a kamrát atmoszférikus nyomásra állítják, kinyitják, és eltávolítják a SiC bevonatú grafit szubsztrátot.
2. Alkalmazások VastagCVD SiCRétegek
Az 1 mm-nél vastagabb, nagy sűrűségű SiC rétegek kritikus alkalmazásokat találnak a következő területeken:
Félvezető gyártás:Fókuszgyűrűként (FR) szárazmaratási rendszerekben integrált áramkörök gyártásához.
Optika és repülés:A nagy átlátszóságú SiC rétegeket optikai tükrökben és űrhajó ablakokban használják.
Ezek az alkalmazások nagy teljesítményű anyagokat igényelnek, így a vastag SiC nagy értékű termék, amely jelentős gazdasági potenciállal rendelkezik.
3. Céljellemzők a félvezető minőséghezCVD SiC
CVD SiCfélvezető alkalmazásokhoz, különösen fókuszgyűrűk esetén szigorú anyagtulajdonságokat igényel:
Nagy tisztaságú:Polikristályos SiC, 99,9999%-os tisztaságú (6N).
Nagy sűrűség:A sűrű, pórusmentes mikrostruktúra elengedhetetlen.
Magas hővezetőképesség:Az elméleti értékek megközelítik a 490 W/m·K-t, a gyakorlati értékek 200-400 W/m·K.
Szabályozott elektromos ellenállás:A 0,01-500 Ω.cm közötti értékek kívánatosak.
Plazmaellenállás és kémiai tehetetlenség:Kritikus az agresszív maratási környezetek ellenállásához.
Magas keménység:A SiC eredendő keménysége (~3000 kg/mm2) speciális megmunkálási technikákat tesz szükségessé.
Köbös polikristályos szerkezet:Előnyösen orientált 3C-SiC (β-SiC) domináns (111) krisztallográfiai orientációval kívánatos.
4. CVD eljárás 3C-SiC vastag fóliákhoz
A fókuszgyűrűk vastag 3C-SiC fóliáinak felhordásának előnyben részesített módszere a CVD, a következő paraméterekkel:
Prekurzor kiválasztása:A metil-triklór-szilánt (MTS) gyakran használják, amely 1:1 Si/C mólarányt kínál a sztöchiometrikus leválasztáshoz. Egyes gyártók azonban optimalizálják a Si:C arányt (1:1,1–1:1,4), hogy növeljék a plazma ellenállását, ami potenciálisan befolyásolja a szemcseméret-eloszlást és az előnyben részesített orientációt.
szállítógáz:A hidrogén (H2) reagál a klórtartalmú anyagokkal, míg az argon (Ar) az MTS vivőgázaként működik, és hígítja a gázelegyet a lerakódási sebesség szabályozására.
5. CVD rendszer fókuszgyűrű alkalmazásokhoz
A 3C-SiC fókuszgyűrűkhöz történő leválasztására szolgáló tipikus CVD-rendszer sematikus ábrázolása látható. A részletes gyártási rendszerek azonban gyakran egyedi tervezésűek és szabadalmaztatottak.
6. Következtetés
A nagy tisztaságú, vastag SiC rétegek CVD-vel történő előállítása összetett folyamat, amely számos paraméter pontos szabályozását igényli. Mivel az ilyen nagy teljesítményű anyagok iránti kereslet folyamatosan növekszik, a folyamatos kutatási és fejlesztési erőfeszítések a CVD-technikák optimalizálására összpontosítanak, hogy megfeleljenek a következő generációs félvezetőgyártás és más igényes alkalmazások szigorú követelményeinek.**